技术指标：

SEM分辨率1.0nm @ 15kV

1.9nm @ 1kV

放大倍数Mag.：12 ~ 1000,000x

加速电压EHT：0.1 ~ 30kV

 FIB分辨率Resolution：2.5nm @ 30kV

放大倍数Mag.：300×500,000×

加速电压EHT：1.0 ~ 30Kv

主要功能：

场发射扫描电镜（SEM）

3D背散射电子取向成像系统（EBSD）

聚焦离子束系统（FIB）

联系人：

贾佳琦  电话：023-65106001 地址： 重庆大学综合实验大楼103室