技术指标： 

点分辨率：0.27nm；
信息分辨率：0.14nm；
加速电压：最大200KV；

放大倍数：
TEM放大倍数：25X-720KX；
STEM放大倍数：150X-230MX。

主要功能：
固体材料微观结构、组织成分、晶格、微孔分布、颗粒形貌大小等高分辨率分析。 

联系人：
陈厚文、张露 电话：023-65106001 地址： 重庆大学综合实验大楼